VASCO KIN 原位纳米粒度分析仪

VASCO KIN™ 粒度分析仪是新一代高精度时间分辨纳米激光粒度分析仪,搭配非接触式远程光学探头,可实现精确的颗粒动力学原位及在线分析。该仪器可以实时监测纳米颗粒的合成、团聚或悬浮液的稳定性。


通过单次或多次连续测量,VASCO KIN™ 粒度分析仪可以获取反应的所有表征数据(粒度分布、散射强度、相关图等)。



L1000804


主要特点和优势

· 稳频激光器和无伪影的雪崩光电二极管 (APD) 探测器

   → 测量精度高,可分辨低至0.5 nm的颗粒

   → 样品散射度极低

· 嵌入式专用 PC,包括软件相关处理和全套专用软件 NanoKin®

   → 用户友好的操作界面

   → 储存原始光强频率数据用于时间分辨分析和后续分析

   → 包括动力学分析结果在内的完整报告

· 增强型数学模型

   → 更可靠的结果

   → 粒度分布随时间变化的二维伪彩图

主要技术参数

·测量原理:光纤动态光散射 (DLS)

·测量配置:原位/非接触式远程探头

·粒度范围:0.5 nm 至 10 µm*

·浓度范围:最高 40%(重量百分比)*

·测量时间:2 秒 至 12 小时

·时间分辨率:最高 200 毫秒

·占地面积小,无可移动部件,易于集成到恶劣环境中

·因样品而异

可更换的测量探头

  • 原位测量探头原位测量探头

    特点

    · 原位非接触式测量:无污染风险

    · 兼具耐用性和紧凑性:易于集成到空间受限的环境中

    · 嵌入式可见激光校准光束:安装方便,精准定位

    · 工作距离/散射角可调节

    · 节省成本和时间:无需耗材,免去繁琐的批量取样


    应用

    · 原位过程监控

    · 与其他仪器耦合

  • 高浓度测量头高浓度测量头

    特点

    · 基于双重厚度控制 (DTC) 技术

    · 适用于高浓度和/或深色悬浮液(油墨、乳剂、原油等)

    · 无需耗材

    · 可选配高浓度在线测量流样池

    · 能够在密闭环境(手套式操作箱)中工作


    应用

    · 受控环境中的测量

    · 常规实验室测量

  • 高精度温控测量探头高精度温控测量探头

    特点

    · 温度范围宽:5°C 至 80°C;± 0.05°C

    · 体积小巧:能够在密闭环境(手套式操作箱)中工作

    · 与标准 10×10 mm2 比色皿(一次性或 QS)兼容

    · 无交叉污染,取样方便

    · 可选配荧光滤光片

    · 可选配各种比色皿:一次性比色皿、玻璃比色皿、微型比色皿、流动比色皿……


    应用

    · 批量取样测量

    · 常规实验室测量

VASCO KIN 原位纳米粒度分析仪

NanoKin® 软件

VASCO KIN™ 粒度分析仪随附便于使用的 NanoKin® 动力学分析专用软件。

  • NanoKin® 软件集成独特的创新功能, 例如:

    ·具备光子计数存储功能的软件相关分析工具

    →可自定义的时间分辨分析和事后分析(基于储存的原始散射光信号)

    → 实时测量

    ·增强型数学模型

    → 更可靠的结果

    ·包括动力学分析结果在内的完整报告

    ·模拟工具

    ·数据回放模式

  • NanoKin®软件还通过多种形式显示结果:

    ·粒度分布随时间变化的二维伪彩图

    ·动态粒度分布

  • VASCO KIN™ 粒度分析仪具有独特的“时间切片”功能,用户可以通过后验选择分析的时间尺度,从而选择测量的分辨率。
    在此基础上,用户可以获得所选时间尺度相应的相关图和粒度分布。
  • 此外,NanoKin® 软件还允许设置用户自定义的标准操作规程(SOP):

    ·溶剂

    ·温度

    ·激光功率

    ·其他

数据分析
  • 重新加载重新加载

    特点

    · 分析以往测量结果

    · 修改参数,包括调用不同算法对原始数据进行重新分析

    · 自定义时间分辨频率用于动力学分析

    · 新建报告

  • 对比对比

    特点

    · 快速对比多份测量文件

    · 叠加相关图和粒度分布

    · 新建对比报告

  • 分子量计算分子量计算


    特点

    · 可计算纳米颗粒的分子量

    · 即使在多重模态分布中也可进行精确计算

    · 可预估实验误差

  • 浓度浓度


    特点

    · 估算纳米颗粒的浓度

    · 易于使用的软件校准工具

VASCO KIN 原位纳米粒度分析仪

光学头技术参数
测量原理光纤动态光散射 (DLS)
样品量 (µL)低至 8 µL(因样品池而异)
测量配置原位测量——非接触式远程探头/用户自定义
样品池类型标准的一次性样品池、µL 级一次性样品池、Quartz Suprazil 标准样品池等
溶剂相容性水溶剂和有机溶剂(因样品池而异)
散射角 (°)170°
粒度范围0.5 nm 至 10 µm(因样品而异)
浓度范围最高 40%(重量百分比)(因样品而异)
尺寸/重量50 mm x 25 mm x 120 mm(高 x 宽 x 深) /<0.5 kg            
硬件技术参数(中央处理单元)
激光光源高稳定性固体激光器(可选择蓝色和绿色)
探测器无伪影的雪崩光电二极管 (APD)
计算机嵌入式专用 PC
数据处理相关处理和分析软件:NanoKin® 软件
时间分辨率最高 200 ms(因样品和测量方法而异)
测量时间2 s 至 12 h
操作条件/储存条件15°C 至 40°C / -10°C 至 50°C——相对湿度 < 70%,无冷凝
尺寸/重量220 mm x 220 mm x 64 mm(上部) / 2.5 kg
220 mm x 220 mm x 48 mm(下部) / 2.8 kg
系统合规性
CE 认证CE 认证产品——3b 类激光产品 – EN 60825-1:2001,CDRH
标准化符合 ISO 13321 (1996) 和 ISO 22412 (2008) 标准以及《美国联邦法典》第 21 卷第 11 部分电子数据签名管理(可选)
附件和服务

1 年保修、安装和培训、在线支持

NanoKin® 软件(已安装)和说明书

Pelicase™ 运输箱(可选)

NIST 认证的乳胶悬浮液套件(可选)

监控显示器、键盘、鼠标(可选)