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AMERIGO 是一款全新的分析设备，用于表征纳米颗粒悬浮液，将纳米粒度分析和 Zeta 电位测量和在线原位纳米粒度分析三合为一。为用户提供多种实验条件下的一体化解决方案。面对不同的实验需求，用户无需购买多台设备。保证了数据的一致性和有效性
这款分析仪基于最先进的动态光散射 (DLS) 和激光多普勒电泳 (LDE) 技术，可实现高分辨率、准确和快速的测量。
这两种技术补充了纳米颗粒溶液的信息：纳米颗粒的粒度和制剂的稳定性。
· 三合一仪器
· 可以在标准样品池中进行测量
· 或使用可更换的远程测量头（见下文）
· 专为标准 10 mm x 10 mm 比色皿设计的样品室——无需特定耗材
· 两种配置下的测量结果：背向散射 (170°) 或透射 (17°)
· 高耐久性玻璃碳电极
· 易于使用的专用分析软件
· 数字式相关器——动态时间分辨和数据重述分析功能
· 体积小巧
原位测量头特点
· 原位非接触式测量：无污染风险
· 兼具耐用性和紧凑性：易于集成到空间受限的环境中
· 嵌入式可见激光校准光束：安装方便，精准定位
· 工作距离/散射角可调节
· 节省成本和时间：无需耗材，免去繁琐的批量取样
应用
· 原位过程监控
· 与其他仪器耦合
高浓度测量头特点
· 基于双厚度控制器 (DTC) 技术
· 适用于高浓度和/或深色悬浮液（油墨、乳剂、原油等）
· 无需耗材
· 可选配高浓度在线测量流样池
· 紧凑：能够在密闭环境（手套式操作箱）中工作
应用
· 受控环境中的测量
· 常规实验室测量
AMERIGO纳米粒度和 ZETA 电位二合一分析仪
AmeriQ 软件
这款纳米粒度测量和 Zeta 电位测量专用软件具备下列优点：
· 方便使用的直观用户界面
· 用户自定义的标准操作规程 (SOP)
· 软件相关处理机
· 可自定义动态时间分辨
· 增强型原始数据处理算法：多模态连续算法 (MCA) 和多模态离散算法 (MDA)，以及标准累积量方法
· 动态粒度分布
· 详尽的溶剂数据库
· 报告模块
· 模拟模块
| 技术参数 | |
|---|---|
| 粒度范围 | 粒度：0.5 nm 至 10 µm / Zeta 电位：1 nm 至 100 µm |
| 样品浓度 | 0.0001% 至 40%（重量百分比）（因溶剂而异） |
| Zeta 电位范围 | -500 mV 至 +500 mV |
| 样品池内温度控制范围 | 0°C 至 90°C；± 0.1°C（因比色皿材料而异） |
| 迁移率范围 | 10-10to 10-7 m2/V.s |
| 样品池 | 耐有机溶剂的光学级比色皿 |
| 样品量 | 通常为 750 µL（Hellma 比色皿：10 mm 光程） |
| 样品类型 | 水溶剂和有机溶剂；pH 值：1-14（因比色皿材料而异） |
| 最大样品电导率 | 300 mS/cm |
| 光纤输出（可选配） | 可连接外部原位测量头或DTC测量头 |
| 信号处理 | |
| 测量技术 | 动态光散射（DLS）/激光多普勒电泳（LDE） |
| 激光光源 | 高度可靠的50 mW 半导体激光器，@635 nm，配备自动光学衰减系统 |
| 探测器 | 雪崩光电二极管（APD） |
| 数据处理算法 | 实时相关处理/快速傅里叶变换 |
| 测量角度 | 粒度：170°（背向散射）和 17° / Zeta 电位：17° |
| 分辨率 | 迁移率 = 10-10 m2/V.s 或 Zeta = 0.1 mV（水中） |
| 硬件 | |
| 操作条件/储存条件 | 15°C 至 40°C / -10°C 至 50°C——相对湿度 < 70%，无冷凝 |
| 计算机接口 | USB 2.0/ Windows 10/32或64位 |
| 尺寸 | 33 cmx33cmx38cm (高x宽x深) |
| 重量 | 17 kg |
| 电源 | 100-115/220-240 VAC, 50/60Hz，最大功率100 W |
| 系统合规性 | |
| CE 认证 | CE 认证产品——I 类激光产品，EN 60825-1:2001，CDRH |
| ISO 标准 | 符合 ISO 13321 (1996) 和 ISO 22412 (2008) 标准、《美国联邦法典》第 21 卷第 11 部分电子数据签名管理（可选）、《ISO 13099-2 : 2012 – 胶体系统 – Zeta 电位测定方法 – 第 2 部分：光学方法》 |
| 附件和服务 | |
| 2 年保修 | |
| AmeriQ® 软件和说明书 | |
| 原位或 DTC 远程测量头 | |
| 校准套件（可选） | |