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AMERIGO™、VASCO KIN™和 VASCO™ 粒度分析仪使用众所周知的动态光散射（DLS）技术分析纳米颗粒的纳米颗粒粒度。
动态光散射技术利用布朗运动分析悬浮液中颗粒粒度的特征，从而测量其纳米级（0.5nm至10μm）的流体动力学直径。
AMERIGO™ 和 WALLIS™ 可进行 Zeta 电位分析，能够以最高的分辨率 (0.1 mV) 表征纳米颗粒和胶体电荷。
这两款仪器以现代化的激光多普勒电泳 (LDE) 技术为基础，是研究胶体悬浮液稳定性和纳米颗粒电泳特性的理想工具。
了解我们全系列纳米级颗粒表征专用设备（可测定纳米颗粒粒度、测量 Zeta电位以及检测水体中纳米颗粒的运动轨迹）。
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Cordouan Technologies 是法国纳米颗粒和纳米材料表征（粒度、电荷等）的先进解决方案专家。我们擅长学术研究、工业应用（过程监测、质量控制和研发）专用创新仪器的开发、产业化、生产与销售。
我们通过以下各大著名机构转让的专利和创新技术，开发了独特的系列产品：法国石油研究院 (IFPEN)、卡尔斯鲁厄理工学院 (KIT)、查尔斯·塞德隆研究所 (ICS)。